NS-EN 14784-1:2005
无损检测 使用存储磷光成像板的工业计算机射线照相 第1部分：系统分类

Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — Part 1: Classification of systems

标准号

NS-EN 14784-1:2005

发布

2005年

发布单位

SCC

当前最新

NS-EN 14784-1:2005

 

 

适用范围

采纳来源：EN 14784-1:2005 本欧洲标准规定了计算机射线照相系统的基本参数，目的是能够经济地获得令人满意且可重复的结果。这些技术基于基本理论和测试测量。本欧洲标准规定了计算机射线照相 (CR) 系统的性能以及系统扫描仪和荧光成像板 (IP) 相应参数的测量。它描述了这些系统与工业射线照相的指定金属屏幕结合的分类。它旨在确保图像质量（就扫描仪 IP 系统的影响而言）符合本标准第 2 部分的要求。该标准涉及 EN 584-1 和 ISO 11699-1 中定义的胶片射线照相要求。本欧洲标准定义了不同级别的系统测试。描述了更复杂的测试，这些测试允许确定精确的系统参数。它们可用于对不同供应商的系统进行分类，并使用户进行比较。这些测试被指定为制造商测试。其中一些需要特殊工具，而这些工具通常在用户实验室中不可用。因此，还描述了更简单的用户测试，这些测试旨在快速测试 CR 系统的质量和长期稳定性。有几个因素会影响 CR 图像的质量，包括几何不清晰度、信噪比、散射和对比灵敏度。还有几个其他因素（例如扫描参数），会影响使用光学扫描仪准确读取暴露 IP 上的图像。

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