半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理, 您可以免费下载预览页
GB 14031-1992由国家质检总局 CN-GB 发布于 0000-00-00,并于 0000-00-00 实施。
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GB 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB 14031-1992 。
半导产品类别目前的半导体产品可分为集成电路、分离式组件、光电半导体等三种。集成电路(IC),是将一电路设计,包括线路及电子组件,做在一片硅芯片上,使其具有处理信息的功能,有体积小、处理信息功能强的特性。依功能可将IC分为四类产品:内存IC、微组件、逻辑IC、模拟IC。分离式半导体组件,指一般电路设计中与半导体有关的组件。常见的分离式半导体组件有晶体管、二极管、闸流体等。...
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