EN 60749-34:2010
半导体设备 机械和气候测试方法 第34部分：功率循环

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling

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标准号

EN 60749-34:2010

发布

2010年

发布单位

欧洲电工标准化委员会

当前最新

EN 60749-34:2010

 

 

IEC 60749-34:2010 describes a test method used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the ...

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