BS EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Neutron irradiation
- 标准号
- BS EN IEC 60749-17:2019
- 发布
- 2019年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN IEC 60749-17:2019
- 适用范围
- BS EN IEC 60749 ‑ 17 的内容是什么？ BS EN IEC 60749 ‑ 17 是涵盖半导体器件属性的国际标准的第 17 部分。 本标准规定了确定关键半导体器件退化参数的中子辐照试验方法。 BS EN IEC 60749 ‑ 17 规定进行中子辐照测试，以确定半导体器件对非电离能量损失 (NIEL) 退化的敏感性。 它给出了相关术语和定义、试验仪器、试验程序、安全要求等技术规范。
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