NF EN IEC 60749-5:2024
半导体器件机械和气候试验方法第5部分：带偏压的温度和湿度下的连续寿命试验

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: continuous life test under temperature and humidity with bias


 

 

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标准号
NF EN IEC 60749-5:2024
发布
2024年
发布单位
法国标准化协会
当前最新
NF EN IEC 60749-5:2024
 
 

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