BH GSO IEC 62047-12:2016
半导体器件 微机电器件 第12部分:利用MEMS结构谐振的薄膜材料弯曲疲劳测试方法

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures


 

 

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标准号
BH GSO IEC 62047-12:2016
发布单位
GSO
当前最新
BH GSO IEC 62047-12:2016
 
 

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