CIE 044-1979
反射测量的绝对方法

Absolute methods for reflection measurements

标准号

CIE 044-1979

发布

1979年

发布单位

SCC

当前最新

CIE 044-1979

 

 

适用范围

通过与适当选择的参考标准进行比较，可以测量反射率或反射因子。1969 年，CIE 建议将完美反射漫射器作为理想标准。由于没有现成的材料与完美漫射器相对应，因此问题在于将参考真实物理标准进行的测量转换为相对于完美反射漫射器的绝对值测量。本报告主要强调进行这种转换的理论和程序，而不是材料、测量仪器或样品制备的性质。对于这些主题，读者可以参考原始论文。该文件包含 68 页和 12 个图表。

CIE 044-1979相似标准