NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022
纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布
Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
- 标准号
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022
- 发布
- 2022年
- 发布单位
- 法国标准化协会
- 当前最新
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022相似标准
推荐
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
当小晶体的尺寸和形状基本一致时，计算结果比较可靠。但一般粉末试样的具体大小都有一定的分布，谢乐的微晶尺度计算公式需修正，否则只能是近似结果。X射线衍射法是非破坏性检测方法，测量的准确度还与样品内部应力大小有关。 透射电子显微镜法是通过纳米粒子在照片上的投影来直接反映颗粒的形貌与尺寸，故此法的优点是可直接观察形貌和测定粒径大小，具有一定的直观性与可信性。...
学术干货丨XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
TEM：透射电子显微镜法是通过纳米粒子在照片上的投影来直接反映颗粒的形貌与尺寸，故此法的优点是可直接观察形貌和测定粒径大小，具有一定的直观性与可信性。但是该法是对局部区域观察的结果，所以有一定的偶然性及统计误差，需要通过多幅照片利用一定数量粒子粒径测量统计分析得到纳米粒子的平均粒径。...
应用分享丨使用自动化颗粒工作流程，进行催化剂表征
图3Thermo Scientific Avizo 软件对图1中的镍纳米颗粒的统计分析。此处，不同的颜色表示不同的大小（基于Avizo软件分割处理）。图中显示了单个纳米颗粒的粒径分布、直径、表面积和其他参数。图4上图：APW 用于带有氧化铝（Al2O3）载体的金催化剂纳米颗粒分析。下图：金纳米颗粒粒径分布图。如您希望了解更多信息，请点击文末“阅读原文”填写表单与专家交谈。...
材料形貌分析
透射电镜比较适合纳米粉体样品的形貌分析，但颗粒大小应小于300nm，否则电子束就不能透过了。对块体样品的分析，透射电镜一般需要对样品进行减薄处理。透射电镜可用于观测微粒的尺寸、形态、粒径大小、分布状况、粒径分布范围等，并用统计平均方法计算粒径，一般的电镜观察的是产物粒子的颗粒度而不是晶粒度。...