BS ISO 11938:2012
微束分析 电子探针微量分析 使用波长色散光谱进行元素图谱分析的方法
Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy
2013-04
- 标准号
- BS ISO 11938:2012
- 发布
- 2013年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 替代标准
- BS ISO 11938:2013
- 当前最新
- BS ISO 11938:2013
- 适用范围
- 1 Scope This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is assessed. It describes five types of data processing: the raw X-ray intensity data method, the k-value method, the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.
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