根据材料颗粒度的不同,既可采用一般的光学显微镜,也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定防卫为0.8~150ųm,小于0.8ųm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜和透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm~5ųm范围内的颗粒,适合纳里材料的粒度大小和形貌分析。显微镜法可以了解在制备过程中颗粒的形状,绘出特定表面的粒度分布图,而不只是平均粒度的分布图。...
①筛析法,用于测定 250~0.038mm的物料粒度。实验室标准套筛的测定范围为6~0.038mm;②水析法,以颗粒在水中的沉降速度确定颗粒的粒度,用于测定小于0.074mm物料的粒度;③显微镜法,能逐个测定颗粒的投影面积,以确定颗粒的粒度,光学显微镜的测定范围为150~0.4μm,电子显微镜的测定下限粒度可达0.001μm或更小。...
根据材料颗粒度的不同,既可采用一般的光学显微镜,也可以采用电子显微镜。光学显微镜测定防卫为0.8~150ųm,小于0.8ųm者必须用电子显微镜观察。扫描电镜和透射电子显微镜常用于直接观察大小在1nm~5ųm范围内的颗粒,适合纳里材料的粒度大小和形貌分析。显微镜法可以了解在制备过程中颗粒的形状,绘出特定表面的粒度分布图,而不只是平均粒度的分布图。...
实验室常用的测定物料粒度组成的方法有筛析法、沉降法、激光法和显微法等。 筛析法用于测定0.038~250 mm物料的粒度,实验室标准套筛的测定范围为0.038~6 mm;显微镜法能逐个测定颗粒的投影面积,以确定颗粒的粒度,光学显微镜测定的范围为0.4~150 μm,电子显微镜的测定下限粒度可达0.001 μm甚至更小。 ...
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