ASTM B825-97
金属试样表面薄膜库仑还原的标准试验方法

Standard Test Method for Coulometric Reduction of Surface Films on Metallic Test Samples

ASTM B825-97 发布历史

ASTM B825-97由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1997-05-10。

ASTM B825-97的历代版本如下：

• 2002年10月10日 ASTM B825-02 金属试样表面薄膜库仑还原的标准试验方法
• 2008年03月01日 ASTM B825-02(2008) 金属试样表面薄膜库仑还原的标准试验方法
• 2019年11月01日 ASTM B825-19 金属试样表面薄膜库仑还原的标准试验方法
• 1997年 ASTM B825-1997 金属试样上表面薄膜的电量(库仑)缩减标准试验方法
• 2002年 ASTM B825-2002 在金属试样上表面薄膜的电量(库仑)减少的标准试验方法
• 2002年 ASTM B825-2002(2008) 在金属试样上表面薄膜的电量(库仑)减少的标准试验方法
• 2013年 ASTM B825-2013 在金属试样上表面薄膜的电量滴定减少的标准试验方法
• 1997年05月10日 ASTM B825-97 金属试样表面薄膜库仑还原的标准试验方法

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标准号

ASTM B825-97

发布日期

1997年05月10日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

25.220.01

发布单位

US-ASTM