非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 PAS 62181-2000 前三页，或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。
点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......
5、Probe Station 探针台/Probing Test探针测试，可用来直接观测IC内部信号6、ESD/Latch-up静电放电/闩锁效用测试7、FIB切点分析 8、封装去除 先进的开盖设备和丰富的操作经验，能够安全快速去除各种类型的芯片封装，专业提供芯片开盖与取晶粒服务。 ...
Probe Station 探针台/Probing Test 探针测试。11. ESD/Latch-up静电放电/闩锁效用测试（有些客户是在芯片流入客户端之前就进行这两项可靠度测试，有些客户是失效发生后才想到要筛取良片送验）这些已经提到了多数常用手段。...
Probe Station 探针台/Probing Test 探针测试。11. ESD/Latch-up静电放电/闩锁效用测试（有些客户是在芯片流入客户端之前就进行这两项可靠度测试，有些客户是失效发生后才想到要筛取良片送验）这些已经提到了多数常用手段。...
如何保护我的IC免受这种潜在威胁？我希望您能够意识到，这个挑战涉及很多因素，一个简单的解决方案是无法应用于所有情况的。下方是一个涉及因素列表，列出了决定部件能否承受EOS事件的因素。这些因素分为两组：我们无法控制的因素和我们可以控制的因素。无法控制的因素：IEC波形：ESD、EFT和浪涌的曲线各有不同，它们会以不同的方式攻击器件的某些弱点。考虑器件的工艺技术：有些工艺技术比其他技术更容易发生闩锁。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号