SAE AMS2650-1984
荧光 X 射线检查

FLUOROSCOPIC X-RAY INSPECTION

被代替

2004-05

荧光 X 射线检查 是非强制性国家标准，您可以免费下载预览页

高级搜索

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试：免费下载 SAE AMS2650-1984 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

注意：点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号: SAE AMS2650-1984
发布: 1984年
发布单位: SAE - SAE International
替代标准: SAE AMS2650A-1991
当前最新: SAE AMS2650A-1991

适用范围: PURPOSE: to detect and evaluate certain defects in light alloy castings. APPLICATION: (a) This specification shall be used when called for on the drawing or when required by written instruction. (b) Fluoroscopic inspection may be performed on any or all light alloy castings before submission for x-ray inspection.

SAE AMS2650-1984相似标准

ONORM S 5240-10-1998 X射线诊断图像质量保证．射线检查和荧光检查X射线的验收测试 ASTM F3094-14(2022) 从散射X射线源测定医用X射线荧光检查用X射线屏蔽服防护的标准试验方法 JB/T 11145-2011 X射线荧光光谱仪 JJG(地质) 1006-1990 3080E型X射线荧光光谱仪检定规程 58药典四部-2020 0461 X射线荧光光谱法

推荐

什么是X射线荧光（XRF）？

X射线荧光光谱技术的原理所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级或电子壳层排列，不同的能量层级可包含不同数量的电子。...

X射线荧光提供一种可靠的方法辨别金属制造行业的假货。一台手持式XRF光谱仪（如日立分析仪器的X-MET8000）可鉴定1600多种合金和各类元素（从镁到铀），并且可以分析几乎任何金属物体的成分。XRF如何能够提供帮助由射线源产生的一次X射线照射样品表面，此时射线束轰击样品中的原子，原子发生反应并产生二次特征X射线，这些射线被探测仪收集并处理。然后，探测仪生成一个光谱，显示X射线的峰强度和能量。...

视频：X射线荧光（XRF）技术讲解

全反射X射线荧光(TXRF)应用简介

全反射X射线荧光(TXRF)具有优异的检出限（低至ppt或pg），与其它具有类似元素检出限的检测手段相比，具有基体效应小、样品需求量小、操作相对简单、运行成本低等优势。TXRF一次可以对70多种元素进行同时分析，这是原子吸收ETAAS和FAAS方法难以完成的。...

SAE AMS2650-1984 中可能用到的仪器设备

X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪） X射线实时成像检测系统

SAE AMS2650-1984荧光 X 射线检查