GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法

Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter

GBT35006-2018, GB35006-2018


标准号
GB/T 35006-2018
别名
GBT35006-2018, GB35006-2018
发布
2018年
发布单位
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
当前最新
GB/T 35006-2018
 
 

GB/T 35006-2018相似标准


推荐

电子天平芯片ADC分类(一)

N位转换器分成两端以上的子区来完成。首级电路的采样/保持器对输入信号取样后,先由一个m位分辨率的A/D转换器对输入进行量化,接着用一个至少n位精度的乘积型数模转换器产生一个对应于量化结果的模拟电平,并送至求和电路,求和电路从输入信号中扣除此模拟电平,并将差值放大某一固定增以后输入下一级电路处理。经过各级这样的处理后,zui后由一个叫高精度的K位A/D转换器对残余信号进行转换。...

真空低温电学测试探针台的功能简介

  真空低温电学测试探针台是一种用于材料科学领域的电子测量仪器,于2019年7月9日启用。  主要功能  低温探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。...

数字电路之数字集成电路IC(一)

什么是数字集成电路IC?  数字集成电路是指集成了一个或多个门电路的半导体元器件。数字集成电路拥有多个种类,根据用途不同,可分为如下几类。  ...

29个半导体国家标准即将实施,12月1日有12个国标开始实施!

2023/8/62023/12/15GB/T 42974-2023半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)2023/9/72024/1/16GB/T 42839-2023半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器2023/8/62023/12/17GB/T 42838-2023半导体集成电路 霍尔电路测试方法2023/8/62023/12/18GB/T 43061-2023半导体集成电路 PWM控制器测试方法...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号