ASTM B651-83(2010)
使用双光束干涉显微镜的镍加铬或铜镍镍铬电镀表面腐蚀点测量的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Corrosion Sites in Nickel Plus Chromium or Copper Plus Nickel Plus Chromium Electroplated Surfaces with Double-Beam Interference Microscope

ASTM B651-83(2010) 发布历史

ASTM B651-83(2010)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2010-11-01。

ASTM B651-83(2010)的历代版本如下：

• 1983年 ASTM B651-1983(1995) 用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法
• 1983年 ASTM B651-1983(2001) 用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法
• 1983年 ASTM B651-1983(2006) 用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法
• 1983年 ASTM B651-1983(2010) 双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的标准试验方法
• 1983年 ASTM B651-1983(2015) 用双束干涉显微镜测量镍+铬或铜+镍+铬电镀表面腐蚀部位的试验方法
• 1983年08月26日 ASTM B651-83(1995) 用双光束干涉显微镜测量镍加铬或铜加镍加铬电镀表面腐蚀位置的标准试验方法
• 1983年08月26日 ASTM B651-83(2001) 用双光束干涉显微镜测量镍加铬或铜加镍加铬电镀表面腐蚀位置的标准试验方法
• 2006年04月01日 ASTM B651-83(2006) 使用双光束干涉显微镜的镍加铬或铜镍镍铬电镀表面腐蚀点测量的标准测试方法
• 2010年11月01日 ASTM B651-83(2010) 使用双光束干涉显微镜的镍加铬或铜镍镍铬电镀表面腐蚀点测量的标准测试方法
• 2015年03月01日 ASTM B651-83(2015) 使用双光束干涉显微镜的镍加铬或铜镍镍铬电镀表面腐蚀点测量的标准测试方法
• 2019年10月01日 ASTM B651-83(2019) 使用双光束干涉显微镜的镍加铬或铜镍镍铬电镀表面腐蚀点测量的标准测试方法

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标准号

ASTM B651-83(2010)

发布日期

2010年11月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

25.220.40

发布单位

US-ASTM