ASTM RR-E04-1005 1992
E0112-测定平均晶粒尺寸的标准测试方法
E0112-Standard Test Methods for Determining Average Grain Size
- 标准号
- ASTM RR-E04-1005 1992
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- /
ASTM RR-E04-1005 1992相似标准
推荐
一文搞定晶粒度分析！
对于金属的常温力学性能来说，一般是晶粒越细小，则强度和硬度越高，同时塑性和韧性也越好。二、测定平均晶粒度的基本方法 一般情况下测定平均晶粒度有三种基本方法：比较法、面积法、截点法。具体如下 1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。 ...
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
4.X射线衍射线宽法（XRD） XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。对于具体的晶粒而言, 衍射hkl的面间距dhkl和晶面层数N的乘积就是晶粒在垂直于此晶面方向上的粒度Dhkl。 优点：可用于未知物的成分鉴定。 ...
实验室光学仪器--X射线衍射仪晶粒大小计算
b.该方法获得的晶粒尺寸是平均晶粒尺寸,是不同晶面上各衍射方向晶粒度大小平均值,若需要计算某一晶面上的晶粒尺寸,可采用“计算峰面积”命令。另外,也可以利用谢乐公式计算:谢乐公式的应用方法Dc = 0.89λ /(B cos θ)(λ为X 射线波长, B为衍射峰 半高宽, θ 为衍射角)双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力。晶块尺寸小于0.1μm,且有不均匀应变时衍射线宽化。...
如何精确区分晶粒尺寸和微观应变引起的衍射线宽化？
03晶粒尺寸的测定（不考虑微观应变）测出试样的衍射线后，从实测线形中扣除仪器宽化的影响，获得由晶粒宽化引起的真实半高宽β，最终根据谢乐公式求出Dhkl。例如，用CuKα测定SiO2晶体，标样的半高宽为0.22o，实测试样的半高宽为0.37o，选择最简单的计算方法β=0.37o-0.22o=0.15o，代入谢乐公式，就可计算得到晶粒尺寸为182.3 nm。...