NS-EN 14784-2:2005
无损检测 使用存储荧光成像板的工业计算机射线照相 第2部分：使用 X 射线和伽马射线检测金属材料的一般原则

Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays

标准号

NS-EN 14784-2:2005

发布

2005年

发布单位

SCC

当前最新

NS-EN 14784-2:2005

 

 

适用范围

采纳来源：EN 14784-2:2005 本欧洲标准规定了计算机射线照相术的基本技术，目的是能够经济地获得令人满意的可重复结果。这些技术基于该主题的基本理论和测试测量。本欧洲标准规定了使用荧光成像板（IP）进行缺陷检测的工业计算机 X 和伽马射线照相术的一般规则。它基于基于胶片的金属材料射线照相检查的一般原则（EN 444 和 ISO 5579）。辐射源、探测器和相应几何形状的基本设置应符合 EN 444 和 ISO 5579 以及相应的产品标准，例如焊接的 EN 1435 和铸造的 EN 12681。它没有规定缺陷的验收标准。

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