Zetaview®是基于在激光散射显微视频中单个颗粒的跟踪,适用的浓度范围为105到109个粒子/ml。因为它基于微量电泳的基本原理,所以可以用于校正其他仪器的粒度和zeta电位,此款仪器来自于德国PMX公司(Particle Metrix GmbH)。 Stabino II ®颗粒电位滴定系统和Zetaview®颗粒跟踪系统(PTA)都是设计可用于高的样品处理量。 ...
纳米材料颗粒体系二次粒度统计分析方法,按原理分较先进的三种典型方法是:高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范围不同,又划分为光衍射法和动态光散射法。衍射法主要针对微米、亚微米级颗粒;散射法则主要针对纳米、亚微米级颗粒的粒度分析。电超声粒度分析方法是出现的粒度分析方法,主要针对高浓度体系的粒度分析。...
纳米材料颗粒体系二次粒度统计分析方法,按原理分较先进的三种典型方法是:高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范围不同,又划分为光衍射法和动态光散射法。衍射法主要针对微米、亚微米级颗粒;散射法则主要针对纳米、亚微米级颗粒的粒度分析。电超声粒度分析方法是最新出现的粒度分析方法,主要针对高浓度体系的粒度分析。...
为了适合纳米科技发展的需要,纳米材料的粒度分析方法逐步成为粒度分析的重要内容。适合纳米材料粒度分析的方法主要是激光动态光散射粒度分析法和光子相关光谱分析法,其测量颗粒最小粒径可以达到20nm和1nm。...
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