TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008
模拟 混合信号和射频集成电路的测试和诊断：片上系统方法

Test and Diagnosis of Analogue@ Mixed-Signal and RF Integrated Circuits: the system on chip approach

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标准号

TST DIAG ANLG MIX-SIG RF INTEG CIRC-2008

发布

2008年

发布单位

IET - Institution of Engineering and Technology

 

 

适用范围

用于通信@多媒体和计算机应用的片上系统（SoC）最近受到了国际上的广泛关注；单芯片收发器就是这样的一个例子。现代微电子设计采用混合信号方法，因为复杂的SoC是一个包括模拟和数字电路的混合信号系统。自动测试对于降低下一代 SoC 设备的总体成本变得至关重要。然而，由于容差@寄生和非线性，模拟@混合信号和射频电路@的测试和故障诊断比数字电路的测试和故障诊断困难得多，因此@加上具有挑战性的调谐和校准@仍然是自动SoC测试的瓶颈。本书对模拟、混合信号和射频集成电路以及系统的自动测试、诊断和调谐进行了全面的讨论。该书包含十一章，由世界各地的顶尖研究人员撰写。除了基本概念和技术之外，本书还系统地报告了这些领域的最新技术和未来研究方向，涵盖了完整的电路组件范围，并从 SoC 的角度解决了测试问题。本书是混合信号测试研究人员和工程师的重要参考手册，也可用作研究生和高年级本科生的教材。

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