ASTM C1307-02(2008)
钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法

Standard Test Method for Plutonium Assay by Plutonium (III) Diode Array Spectrophotometry

ASTM C1307-02(2008) 发布历史

ASTM C1307-02(2008)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2008-06-01。

ASTM C1307-02(2008)在国际标准分类中归属于: 27.120.30 裂变物质。

ASTM C1307-02(2008)的历代版本如下：

• 2002年01月10日 ASTM C1307-02 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
• 2008年06月01日 ASTM C1307-02(2008) 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
• 2014年06月01日 ASTM C1307-14 用钚(测定钚的标准试验方法；三)；二极管阵列分光光度法
• 2015年01月01日 ASTM C1307-15 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
• 1995年 ASTM C1307-1995 用(III)钚数组分光光度法鉴定钚的标准测试方法
• 2002年 ASTM C1307-2002 用(III)钚数组分光光度法鉴定钚的标准测试方法
• 2002年 ASTM C1307-2002(2008) 用(III)钚数组分光光度法鉴定钚的标准试验方法
• 2014年 ASTM C1307-2014 用钚40;III41二极管阵列分光光度法进行钚试验的标准试验方法
• 2015年 ASTM C1307-2015 用钚 (III) 二极管阵列分光光度法进行钚试验的标准试验方法
• 2021年 ASTM C1307-2021
• 2021年02月15日 ASTM C1307-21 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
• 2002年01月10日 ASTM C1307-95 钚（III）二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法

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标准号

ASTM C1307-02(2008)

发布日期

2008年06月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

27.120.30

发布单位

US-ASTM