KS D 0257-2022
光电导衰变法测量硅单晶中少数载流子寿命

Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method


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标准号
KS D 0257-2022
发布
2022年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS D 0257-2022
 
 

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