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金属元素分析在国内冶金,铸造,机械,矿产领域非常常见。实验室配备有电感耦合等离子发射光谱仪(ICP-OES)、原子吸收光谱仪(AAS)、X射线荧光光谱仪(XRF)、电位滴定仪、分光光度计、氮氧仪、碳硫仪等各类高精度化学检测仪器。...
1介绍工业硅含有98%以上的Si,以及Fe、Al、Ca等杂质成分。是生产多晶硅、铝硅合金、硅铁、有机硅等产品的主要原料。多晶硅是光伏、半导体的基础材料,纯度在6N以上,因此对工业硅的杂质提出了更高的要求。X射线荧光光谱法可直接分析固体样品,省却了其他分析方法的样品消解、去硅等繁琐制样步骤,正在成为工业硅中杂质元素的主要分析方法。...
其中涉及的分析方法有波长色散X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法、化工用在线气体质谱分析仪等。标准编号标准名称标准主要内容代替标准 YB/T 4907-2020锰铁、锰硅合金和金属锰 锰、硅、铁、磷含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法本标准规定了采用波长色散X射线荧光光谱法(熔铸玻璃片法)测定锰铁、锰硅合金和金属锰中锰、硅、铁、磷的含量。 ...
7 YB/T 6026-2022生铁 硅、锰、磷、硫、钛含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 本文件规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定炼钢用铁水样品中硅、锰、磷、硫、钛含量的方法。 本文件适用于炼钢用铁水灰口铁、白口铁样品中硅、锰、磷、硫、钛含量的测定。...
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