GB/T 36474-2018
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)
GBT36474-2018, GB36474-2018
GB/T 36474-2018 发布历史
本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(CDDR3 SDRAMD功能验证和电参数测试的方法。 本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAMD)功能验证和电参数测试。
GB/T 36474-2018由国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 发布于 2018-06-07，并于 2019-01-01 00:00:00.0 实施。
GB/T 36474-2018 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
GB/T 36474-2018 发布之时，引用了标准
- GB/T 17574 半导体器件 集成电路 第2部分;数字集成电路
GB/T 36474-2018的历代版本如下：
- 2018年 GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法
- 标准号
- GB/T 36474-2018
- 别名
- GBT36474-2018
GB36474-2018 - 发布
- 2018年
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
- 当前最新
- GB/T 36474-2018
- 引用标准
- GB/T 17574
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