另外一种测量的方式是同时测量整个光谱范围,将复合光束的波长展开,利用探测器阵列来检测各个不同的波长信号。在需要快速测量的时候,通常是用这种方式。傅立叶变换分光计也能同时测量整个光谱,但通常只需一个探测器,而不用阵列,这种方法在红外光谱范围应用最为广泛。...
椭偏仪1是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于厚度和折光率测量精度高,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。利用椭偏仪来测量薄膜的过程就是椭偏仪测量。...
椭偏测量原理 椭偏仪的应用 1892年,德国的Drude教授发明了椭偏仪,真正的应用发展是在上世纪六、七十年代蓬勃兴起的半导体领域,半导体芯片就是典型的纳米薄膜产品,芯片经镀膜后、进行光刻、再镀膜,所以芯片有几十道工序要用到椭偏仪。目前光伏产品生产的过程控制也离不开椭偏仪。 ...
如何通过椭偏仪测量分子取向的问题椭偏可用于液晶等光轴大分子的取向检测,与检偏工作原理类似,椭偏仪两臂水平,液晶薄膜竖直放置于两臂中间,转动液晶薄膜样品,当信号最弱时,液晶方向与椭偏仪起偏器方向相反,信号最强时,二者方向一致。...
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