KS C IEC 60749-6:2020
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第6部分:高温储存

Semiconductor devices — Mechanical and climatic test methods — Part 6: Storage at high temperature

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS C IEC 60749-6:2020 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
KS C IEC 60749-6:2020
发布
2020年
发布单位
韩国科技标准局
当前最新
KS C IEC 60749-6:2020
 
 

KS C IEC 60749-6:2020相似标准

DIN EN 60749-6:2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温储存 DS/EN 60749-6/Corr.1:2004 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存 DS/EN 60749-6:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存 NF C96-022-6*NF EN 60749-6:2017 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存 UNE-EN 60749-6:2003 半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分：高温储存

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

-2-2002 纤维光学互连器件和无源元件的可靠性第2部分:一定温度湿度条件下基于加速老化试验的定量评估KS C IEC 62005-3-2002 纤维光学互连器件和无源元件的可靠性第3部分:评估无源元件失效模式和失效机理的相关试验KS A IEC 60605-3-6-2002 设备可靠性测试.第3章:标准测试条件.第6节:测试周期6:户外移动设备.低级模拟试验装置KS A IEC 60605-3-...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号