UNE-EN 15042-1:2007
涂层厚度测量和表面波表面表征 第1部分：通过激光诱导表面声波测定薄膜的弹性常数、密度和厚度的指南
Thickness measurement of coatings and characterization of surfaces with surface waves - Part 1: Guide to the determination of elastic constants, density and thickness of films by laser induced surface acoustic waves
UNE-EN 15042-1:2007相似标准
BS EN 15042-1:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.使用激光感应表面声波法测定薄膜的弹性常数,密度和厚度用指南
EN 15042-1:2006 覆层厚度测量和表面波纹表征.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数,密度和厚度的测定指南
DIN EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南
NF A91-139-1*NF EN 15042-1:2006 涂层厚度测量和有表面波的表面特性化.第1部分:采用激光感应表面声波法对各膜层的弹性常数、密度和厚度的测定指南
DS/EN 15042-2:2006 涂层厚度测量和表面波表面表征 第2部分：光热法涂层厚度测量指南
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进口测厚仪的分类
4.薄膜测厚仪用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5.涂层测厚仪用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.6.超声波测厚仪超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，笃挚仪器，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。...
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▲薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。 ▲涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。 ▲超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。...
测厚仪的主要类别
1、激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。 2、X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。...