ASTM F76-86(1996)e1
测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ASTM F76-86(1996)e1 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

ASTM F76-86(1996)e1

发布日期

1986年10月31日

实施日期

废止日期

无

发布单位

US-ASTM