SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
Semiconductor integrated circuit field programmable gate array testing method
SJT11706-2018, SJ11706-2018
- 标准号
- SJ/T 11706-2018
- 别名
- SJT11706-2018, SJ11706-2018
- 发布
- 2018年
- 发布单位
- 工业和信息化部
- 当前最新
- SJ/T 11706-2018
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