ASTM E2729-09
分光光度计带通差分校正的标准实践
Standard Practice for Rectification of Spectrophotometric Bandpass Differences
- 标准号
- ASTM E2729-09
- 发布
- 2009年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM E2729-09(2015)
- 当前最新
- ASTM E2729-16(2021)
- 引用标准
- ASTM E284 ASTM E308
- 适用范围
- 如果不进行这样的校正，则会导致与频谱真实值的差异约为 0.02 至 0.4 ΔE*ab 单位。所有用户都必须纠正此类带通差异。计算机程序的编写者尤其有责任从仪器获取此类光谱，以确保在对光谱进行任何附加处理或完成涉及光谱的计算之前或在光谱之前在程序中实施有效的校正。可供用户使用。传统测量系统明确免除任何硬件或软件改造的要求，并且可以继续利用以前接受的带宽校正方法。
1.1 本标准概述了可用于至少部分地解卷积光谱带通差异的方法通过简化分光光度法获得的原始光谱数据。引入这种差异是因为光谱通带必须具有足够的带宽以允许足够的能量到达检测器。另一方面，应该报告的光谱数据是虚拟 1 nm 带宽光谱的光谱数据，以便在涉及 1 nm 求和的 CIE 三刺激积分方法中有用。
1.2 该标准规定了是否、何时以及如何对通过简化分光光度法获得的任何反射或透射光谱进行带通校正的实践。
1.3 适用于通带形状为三角形且带宽等于通带之间的测量间隔的情况。当该条件未得到满足时，第 7 节会向用户提供信息。
1.4 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。