IEEE P1500/D1.4, November 2021
嵌入式内核集成电路的 IEEE 标准可测试性方法草案

IEEE Draft Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits


 

 

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标准号
IEEE P1500/D1.4, November 2021
发布
2021年
发布单位
美国电气电子工程师学会
 
 
适用范围
定义了一种用于测试片上系统 (SoC) 内核心设计的机制。该机制是一种硬件架构，利用核心测试语言（CTL）来促进核心设计者和核心集成商之间的沟通。

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