IEEE Std 660-1986
半导体存储器测试模式语言的 IEEE 标准
IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
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- 标准号
- IEEE Std 660-1986
- 发布
- 1986年
- 发布单位
- 美国电气电子工程师学会
- 当前最新
- IEEE Std 660-1986
- 适用范围
- The purpose of this standard is to establish a common language for describing functional tests of memory devices. That language definition includes the vocabulary and grammar necessary to specify the functional testing of memory devices. The language is intended to be used as a general descriptive language rather than one for programming a tester. As a result, the grammar and syntax are defined in...
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