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两者均使用相同的均方根方法进行测量,但空间频率不同。其中:Rq:表面粗糙度(均方根偏差)Wq:表面波纹度(均方根偏差)T:一般表面结构(粗糙度或波纹度;均方根偏差)Lr:样本长度Z(x):沿X轴的表面轮廓图3:在给定采样长度上测得的粗糙度轮廓示例。Rq2表示均方根高度3.均方根斜率:与均方根粗糙度和波度类似,可以使用沿给定采样长度的表面的局部倾斜的均方根斜率来指定光学平滑表面。...
附加参数只在高度特征参数不能满足表面功能要求时.才附加选用.在常用的参数值范围(Ra为0.025-6.3μm,Rz为0.100-25μm)内,国家标准推荐优先选用.选择表面粗糙度参数规则1.对于光滑表面和半光滑表面一般采用Ra作为评定参数。Ra值反映实际轮廓微观几何形状特性的信息量大,而且Ra值用触针式电动轮廓仪测量比较容易。2.对于极光滑和极粗糙表面,宜采用Rz作为评定参数。...
图描述了表面的整体形状,并且是将要分析的最大尺度或最大空间频率。图中所描述的误差约为毫米至厘米的十分之一。波度测量描述特征的中间空间频率误差,数量级为µms至mm.粗糙度是误差的最小形式,它描述了表面纹理中间隔紧密的异常,数量级为十分之几埃到几十微米。03ISO 10110-8表面光洁度参数ISO 10110-8的目标是规定如何定义表面纹理的规则。...
答:①图样或技术文件中规定测量方向时,按规定方向进行测量;②当图样或技术文件中没有指定方向时,则应在能给出粗糙度参数zui大值的方向测量,该方向垂直于被测表面的加工纹理方向;③对无明显加工纹理的表面,测量方向可以是任意的,一般可选择几个方向进行测量,取其zui大值为粗糙度参数的数值....
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