检验光学元件 泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。 引力波测量 干涉仪也可以用于引力波探测(Saulson, 1994)。...
产品介绍激光干涉位移传感器(IDS)激光干涉位移传感器(IDS)Cypher AFM系列上的激光干涉位移传感器(Interferometric Displacement Sensor, IDS)配件直接测量探针悬臂垂直样品的位置直线偏移,而非像传统光杠杆法(OBD)测量偏移角度,故而不受静电耦合影响,可提高实验结果的可重复性以及准确性。非常适用于压电力显微镜(PFM)以及d33的测量。...
检验光学元件泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。 引力波测量干涉仪也可以用于引力波探测。...
检验光学元件泰曼干涉仪被普遍用来检验平板、棱镜和透镜等光学元件的质量。在泰曼干涉仪的一个光路中放置待检查的平板或棱镜,平板或棱镜的折射率或几何尺寸的任何不均匀性必将反映到干涉图样上。若在光路中放置透镜,可根据干涉图样了解由透镜造成的波面畸变,从而评估透镜的波像差。 引力波测量干涉仪也可以用于引力波探测 。...
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