IEC 62899-503-1:2020
印刷电子.第503-1部分:质量评定.印刷薄膜晶体管位移电流测量的试验方法
Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
IEC 62899-503-1:2020相似标准
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自2010年加入中科院苏州纳米所印刷电子学研究部以来，专注于可印刷半导体碳纳米管墨水的批量化制备、高性能柔性印刷薄膜晶体管器件和电路等方面的应用研究。已实现可印刷高纯半导体碳纳米管墨水的批量化制备（如图4所示），发表印刷碳纳米管薄膜晶体管及印刷电路研究论文15篇，申请专利15项（授权专利2项：ZL 2012 1 056384.3和ZL 2012 1 0102957.8）。 ...