IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

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标准号: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV
发布: 2011年
发布单位: 国际电工委员会
当前最新: IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV

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