GSO IEC 60749-4:2014

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

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标准号

GSO IEC 60749-4:2014

发布

2014年

发布单位

GSO

当前最新

GSO IEC 60749-4:2014

 

 

适用范围

This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

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