IEC 60747-7:1988
半导体器件.分立器件.第7部分:二极管

Semiconductor discrete devices and integrated circuits; part 7: bipolar transistors


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 IEC 60747-7:1988 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
IEC 60747-7:1988
发布
1988年
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60747-7/AMD1:1991
当前最新
IEC 60747-7:2010/AMD1:2019
 
 

IEC 60747-7:1988相似标准


推荐

二极管和三极管的命名原则

五、欧洲早期半导体分立器件型号命名法欧洲有些国家,如德国、荷兰采用如下命名方法。第一部分:O-表示半导体器件第二部分:A-二极管、C-三极管、AP-光电二极管、CP-光电三极管、AZ-稳压管、RP-光电器件。第三部分:多位数字-表示器件的登记序号。第四部分:A、B、C┄┄-表示同一型号器件的变型产品。...

电子元器件的可靠性筛选(四)

  4 半导体器件筛选方案设计  半导体器件可以划分为分立器件和集成电路两大类。分立器件包括各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、光电器件及特种器件; 集成电路包括双极型电路、   MOS电路、厚膜电路、薄膜电路等器件。各种器件的失效模式和失效机理都有差异。...

工业CT的辐射探测器的分类与介绍你知道么

(1)工业CT分立探测器 工业CT所用的探测器有两个主要的类型—分立探测器和面探测器。而分立探测器常用的X射线探测器有气体和闪烁两大类。 气体探测器具有天然的准直特性,限制了散射线的影响;几乎没有窜扰;且器件一致性好。缺点是探测效率不易提高,高能应用有一定限制;其次探测单元间隔为数毫米,对于有些应用显得太大。 应用更为广泛的还是闪烁探测器。闪烁探测器的光电转换部分可以选用光电倍增管或光电二极管。...

29个半导体国家标准即将实施,12月1日有12个国标开始实施!

国家标准《半导体器件 分立器件 7部分:双极型晶体管》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC1(全国半导体器件标准化技术委员会半导体分立器件分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。  主要起草单位:石家庄天林石无二电子有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、哈尔滨工业大学、捷捷半导体有限公司。  ...


谁引用了IEC 60747-7:1988 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号