CEI EN 62047-21:2016
半导体器件 微机电器件 第21部分:薄膜MEMS材料泊松比测试方法

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 CEI EN 62047-21:2016 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

 

标准号
CEI EN 62047-21:2016
发布
2016年
发布单位
SCC
当前最新
CEI EN 62047-21:2016
 
 

CEI EN 62047-21:2016相似标准


推荐

硅基MEMS制造技术检测方法国际提案介绍

(3) 微机械在各学科领域的应用研究由于MEMS产品结构的特殊性,对其生产过程中的材料、关键工艺的控制一直是国际上关注的热点,作为国际上最为活跃的MEMS标准化组织IEC/TC47/SC47F(MEMS分技术委员会)近年来制定一系列标准,如IEC 62047-17《半导体器件微电子微机器件17部分薄膜材料的膨胀机械性能测量方法》、IEC 62047-18《半导体器件微电子微机器件18...

29个半导体国家标准即将实施,12月1日有12个国标开始实施!

42709.7-2023半导体器件 微电子机械器件 7部分:用于射频控制和选择的MEMS体声波滤波器和双工器2023/5/232023/12/1  国家标准《半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行 ,主管部门为国家标准化管理委员会。  ...

TOKO压力传感器芯体材质都有哪些?

  目前,TOKO压力传感器芯体材质品种繁多,下面简单介绍下几种芯体材质的性能  一、单晶硅  硅在集成电路和微电子器件生产中有着广泛的应用,主要是利用硅的电学特性;在MEMS微机械结构中,则是利用其机械特性,继而产生新一代的硅机电器件和装置。硅材料储量丰富,成本低。硅晶体生长容易,并存在超纯无杂的材质,不纯度在十亿分这一的量级,因而本身的内耗小,机械品质因数可高达10^6数量级。...

2024中国(深圳)国际半导体与封装设备展览会

、电子封装设备及先进制造技术、电子封装测试技术设备、电子烧结相关产品与技术等;八、先进封装与系统集成: 球栅阵列封装、芯片级封装、倒装芯片、晶圆级封装、三维集成及其它各种先进的封装和系统集成技术等;九、封装材料与工艺: 键和丝、焊球、焊膏、导电胶等互连材料;芯片下填料、粘结剂、薄膜材料、介材料、基板材料、框架材料、导热材料、绿色电子材料以及其他能够高封装性能和降低成本的新型材料;以及各种各样的封装与组装工艺等...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号