本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关国际标准设计的。仪器的电流输出为 10 μA - 100 mA,电阻率测试范围为10-2 -105Ωcm ,直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强,更方便于用户, 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。...
根据不同材料特性需要,配有多款测试探头: 1)高耐磨碳化钨探针探头,测量硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻; 2)球形镀金铜合金探针探头,测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻; 3)配合四端子测试夹具,测量电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻; 4)高温四探针测试仪探头可测试电池极片等箔上涂层电阻率...
一分钟了解前沿技术,帮助您更好的阅读下文!挑战:以高分辨率、非接触式、非破坏性和快速的方式表征大面积块状、薄膜和二维材料(如石墨烯)的电学性能(如电导、电阻或载流子迁移率)迫在眉睫。现状CIC nanoGUNE是一个成立于2009年的西班牙研究中心,其使命是解决纳米科学和纳米技术的基础和应用问题,以促进该领域高级研究人员的教育和培训,其中石墨烯是他们研究的重点材料之一。...
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。...
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