荧光X射线分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。 1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪,至60年代本法在分析领域的地位得以确立。...
用X射线管发生的一次X射线来激发X射线荧光是最常用的方法。测量X射线的能量(或波长)可以进行定性分析,测量其强度可以进行定量分析。 3. 原子发射光谱分析法用火焰、电弧、等离子炬等作为激发源,使气态原子或离子的外层电子受激发发射特征光学光谱,利用这种光谱进行分析的方法叫做原子发射光谱分析法。波长范围在190 - 900nm,可用于定性和定量分析。...
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