GB/T 29732—2013《表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准》;4. GB/T 29557—2013《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》;5. GB/T 28894—2012《表面化学分析 分析前样品的处理》;6. GB/T 19500—2004《X—射线光电子能谱分析方法通则》;7. GB/T 25184—2010《X射线光电子能谱仪检定方法》;8....
1991年6月-2005年12月赴日本ULVAC-PHI 株式会社表面分析室工作,历任俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)、二次离子质谱(SIMS)分析实验室主事(专家)。2006年1月至今被人才引进至清华大学分析中心,任高级工程师。目前主要利用AES、XPS、SIMS等表面分析技术从事固体材料表面分析、结构表征等研究。已发表学术论文四十多篇。...
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