国际标准化组织,关于质谱中相对强度的标准 ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性 法国标准化协会,关于质谱中相对强度的标准 NF X21-064-2009 表面化学分析.次级离子质谱测定法.静态次级离子质谱测定法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
二次离子质谱是一种具有超高分辨率和灵敏度的固体表面分析技术。它可以分析氢元素到铀元素在内的所有元素和同位素,还可以得到固体表面官能团和分子结构等信息。SIMS可以分为静态SIMS(SSIMS)和动态SIMS(DSIMS)两种类型,通过不同扫描类型,得到二次离子质谱图、化学成像、动态深度剖析曲线等。 ...
带有几千电子伏特能量的一次离子轰击样品表面,在轰击的区域引发一系列物理及化学过程,包括一次离子散射及表面原子、原子团、正负离子的溅射和表面化学反应等,产生二次离子,这些带电粒子经过质量分析分析后得到关于样品表面信息的质谱,简称二次离子质谱。...
SIMS操作模式可以分为质谱表面谱、成像模式、深度剖析等。 其中质谱模式质量分辨率最高,常用于鉴别各种材料中所含有的元素、材料中的掺杂、污染物中的成分等。二次离子质谱成像是指二次离子在二维平面上的强度分布,可以直观的显示成分的分布,获得元素离子、分子碎片或分子离子的形貌。...
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