DIN EN 50289-4-5:2008-08

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008 / Note: To be replaced by DIN EN IEC 60749-37 (2023-02).

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标准号: DIN EN 50289-4-5:2008-08
发布: 2008年
发布单位: 德国标准化学会
当前最新: DIN EN 50289-4-5:2008-08

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