BS EN 15305:2008(2009)
无损检测 X 射线衍射残余应力分析的试验方法

Non - destructive Testing — Test Method for Residual Stress analysis by X - ray Diffraction


标准号
BS EN 15305:2008(2009)
发布
1970年
发布单位
/
当前最新
BS EN 15305:2008(2009)
 
 

BS EN 15305:2008(2009)相似标准


推荐

残余应力X射线衍射分析

X射线衍射法测量残余应力基本原理(sin2ψ法)X射线衍射测量残余应力基本原理是以测量衍射偏移为基础,得到应变,而后通过弹性力学计算得到残余应力。在无应力状态,衍射角2θ不随晶面方位角ψ变化而变化。当试样中存在残余应力时,晶面间距将发生变化,发生布拉格衍射时,产生衍射峰也将随之移动,而且移动距离大小与应力大小相关。...

无损检测内部残余应力/织构/单晶取向——短波长特征X射线衍射

内部残余应力/织构/单晶取向检测设备——短波长特征X射线衍射仪(简称SWXRD)设备介绍短波长特征X射线衍射仪(SWXRD)应用小型X光源实现晶体材料/工件内部单晶取向、织构、(残余应力、晶体学取向和单晶完整性等衍射信息高效精确检测分析,具有中子衍射、高能同步辐射X射线衍射部分检测分析功能,是实现大科学试验装置技术原理向大规模化工程应用延伸。...

X射线应力介绍介绍

  X射线为表面残余应力测定技术中数量较少无损检测法之一,其是利用材料或制品晶面间距变化来对应力进行测定,作为残余应力分析检测方法,对其研究非常广泛,深入以及成熟。X射线残余应力分析仪利用圆形全二维探测器对X射线在给定角度入射后全部衍射德拜环进行获取,不需要测角仪,使传统X射线残余应力分析测试局限得到摆脱,使真正现场测量和不规则形状样品测量变成可能。  ...

残余应力检测方法

残余应力检测方法主要有两种:无损物理检测方法和有损应力释放法。其中,X射线残余应力检测方法是常用无损法,盲孔法应力检测是有损法。相对来说X射线检测残余应力较为准确,是无损法宏观残余应力检测常用检测方法。它是一种间接检测应力方式,通过检测衍射角2θ相对于晶面方位角ψ角变化率来检测表层微小区域应力。...


BS EN 15305:2008(2009) 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号