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Kubelka-Munk 方程 光照到散射物质表面,光的行为比较复杂,Kubelka 及Munk 从理论上推导出简化的方程式,现应用于薄层扫描。从实用角度解释光照到薄层上的变化情况。 ...
附件校正漫反射附件、镜面反射附件和衰减全反射附件。 1、漫反射附件:Kubelka-Munk如采用漫反射红外附件测试样品,会得到样品的漫反射光谱,其纵坐标应该以Kubelka-Munk函数表示其中K为漫反射体的吸收系数,S为其散射系数,R∞则代表漫反射体样品层为无穷厚时(实际测试只需要1毫米左右的厚度)的漫反射率。当纵坐标以Kubelka-Munk函数表示时,光谱吸收峰强度与样品的浓度成正比关系。...
当采用锐线光源和交流调制技术时,前3种因素一般可以不予考虑,主要考虑分子吸收和光散射地影响,它们是形成光谱背景的主要因素。分子吸收干扰是指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物及盐类分子对辐射吸收而引起的干扰。光散射是指在原子化过程中产生的固体微粒对光产生散射,使被散射的光偏离光路而不为检测器所检测,导致吸光度值偏高。...
白度仪是主要用于测量物体表面的蓝光白度的仪器,是以现代颜色视觉理论、颜色传感技术为依据,集先进的光学、机械、电子技术于一体的测色系统。白度仪仪器还可以测定纸张的透明度、不透明度、光散射系数和吸收系数。还可以测量薄页材料的不透明度等光学性能。白度仪目前广泛应用于造纸、纺织、印染、塑料、陶瓷、搪瓷、粮食、建材、 油漆、化工、盐和其他需要测定特体白度的生产和商检部门。...
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