KS M ISO 6441-2-2002
色漆和清漆显微压痕硬度的测定第2部分:载荷下压痕深度测量的努氏硬度

Paints and varnishes－Determination of micro－indentation hardness－Part 2：Knoop hardness by measurement of indentation depth under load


KS M ISO 6441-2-2002 发布历史

KS M ISO 6441-2-2002由KR-KS 发布于 2002-11-21。

KS M ISO 6441-2-2002在国际标准分类中归属于: 87.040 涂料和清漆。

KS M ISO 6441-2-2002的历代版本如下：

  • 2005年 KS M ISO 6441-2:2005 色漆和清漆显微压痕硬度的测定 第2部分：载荷下压痕深度测量的努氏硬度
  • 2002年 KS M ISO 6441-2-2002 色漆和清漆显微压痕硬度的测定第2部分:载荷下压痕深度测量的努氏硬度

 

标准号
KS M ISO 6441-2-2002
发布
2002年
发布单位
KR-KS
替代标准
KS M ISO 6441-2:2005
当前最新
KS M ISO 6441-2:2005
 
 

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宏观维氏：大载荷下将表面细磨光就可达到要求，但是通常推荐在抛光表面上测试。显微维氏：推荐抛光表面（≤1um）。 关于压痕形状合格的维氏硬度压痕应该是边界清晰的正方形，保证其对角线得到精准的测量，如图2(a)。图2(b)的压痕是不合格的，此时应及时更正测试条件，如严格处理试样表面、装夹试样时要保持平整稳固、更换合适的载荷等等。...


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