DIN EN IEC 60749-10:2023-12
半导体器件 机械和气候测试方法 第 10 部分：机械冲击 器件和组件（IEC 60749-10:2022）；德国版 EN IEC 60749-10:2022

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly (IEC 60749-10:2022); German version EN IEC 60749-10:2022 / Note: DIN EN 60749-10 (2003-04) remains valid alongside this standard until 202...


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 DIN EN IEC 60749-10:2023-12 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

 

标准号
DIN EN IEC 60749-10:2023-12
发布
2023年
发布单位
德国标准化学会
当前最新
DIN EN IEC 60749-10:2023-12
 
 

DIN EN IEC 60749-10:2023-12相似标准

DIN EN IEC 60749-10:2023-06 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 10 部分：机械冲击 - 器件和组件 (IEC 60749-10:2022) LST EN 60749-10-2003 半导体器件 机械和气候测试方法 第10部分：机械冲击（IEC 60749-10:2002） DIN EN 60749-10:2003-04 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 10 部分：机械冲击 (IEC 60749-10:2002) 21/30435579 DC BS EN 60749-10 半导体器件 机械和气候测试方法 第10部分：机械冲击 设备和组件 NF EN IEC 60749-10:2022 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 10 部分：机械冲击 - 器件和组件

推荐

史上最全可靠性试验标准，384项，不仅包括中国标准

1-2011 液晶显示装置.第5-3部分:环境、耐久性和机械试验方法.玻璃强度和可靠性.勘误表1IEC 60749-30 Edition 1.1-2011 半导体器件的机械和环境试验.第30部分:非密封表面安装设备可靠性测试前的预处理IEC 60749-30 AMD 1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:先于可靠性测试的非密封性表面贴装设备的预处理IEC/TR 62627-03...

关注 | 深度了解IEC——第83届IEC大会倒计时34天

为推动“一带一路”倡议和“走出去”战略落实、实现经济高质量发展，我国积极参与IEC等国际标准组织治理体系改革和国际标准制定工作。　　我国于1957年正式加入IEC，2011年成为IEC 6个常任理事国（Group A members）中、法、德、日、英、美之一。目前，在所有国家中，我国参与IEC技术委员会数量居第2位（仅次于德国），活跃专家人数位居第3位（仅次于德国、日本）。...


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号