IEC TS 62607-5-3:2020
纳米制造关键控制特性第5-3部分:薄膜有机/纳米电子器件电荷载流子浓度的测量
Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 5-3: Thin-film organic/nano electronic devices – Measurements of charge carrier concentration
- 标准号
- IEC TS 62607-5-3:2020
- 发布
- 2020年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC TS 62607-5-3:2020
IEC TS 62607-5-3:2020相似标准
PD IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造 关键控制特性 薄膜有机/纳米电子器件 载流子浓度的测量
DIN IEC/TS 62607-5-1:2016-07*DIN SPEC 42607-5-1:2016-07 纳米制造 关键控制特性 第5-1部分：薄膜有机/纳米电子器件 载流子传输测量
KS C IEC TS 62607-5-1:2019 纳米制造 - 关键控制特性 - 第5-1部分:薄膜有机/纳米电子器件 - 载体运输测量
KS C IEC TS 62607-5-1-2019 纳米制造 - 关键控制特性 - 第5-1部分:薄膜有机/纳米电子器件 - 载体运输测量
BS PD IEC/TS 62607-5-1:2014 纳米制造. 关键控制特性. 有机薄膜/纳米电子器件. 载波传输测量
推荐
斯特拉斯堡大学张磊Adv.Mater：利用自支撑纳米网支架制备具有超快响应速度的有机晶体柔性光电探测器
【引言】在过去的三十年里，有机半导体（OSC）作为活性材料已应用于许多光电子器件的构建，赋予这些器件引人注目的特性，例如器件的光电性质可通过分子设计进行调控，并具有溶液可加工性和柔性等。一方面，超分子尺度的高度有序性可以改善有机半导体材料的电荷传输和能量传输；另一方面，一个均匀的半导体薄膜是（光电）电子器件大面积应用的关键要求。...
西安电子科大：利用MXene纳米材料，实现高效稳定光伏发电！
（a）采用的PSC的能带结构(b）在原始薄膜和杂化薄膜上沉积的钙钛矿薄膜的稳态PL谱，（c）TRPL谱和（d）瞬态带边动力学(e）SCLC法测量钙钛矿薄膜中缺陷密度的纯电子器件的曲线(f）钙钛矿薄膜的缺陷密度和MXene含量之间的关系图，插图是纯电子器件的结构。这项工作提供了一种使用新兴MXene纳米材料减少钙钛矿薄膜缺陷的简便、可靠和有效的方法，并可能对其他钙钛矿基电子器件产生有益效果。...
Nature Nanotechnology：大面积可控单晶石墨烯多层堆垛制备技术新突破
石墨烯/二维材料电学性质非接触快速测量系统—ONYXONYX主要功能→ 直流电导率（σDC）→ 载流子迁移率, μdrift→ 直流电阻率, RDC→ 载流子浓度, Ns→ 载流子散射时间，τsc→ 表面均匀性ONYX应用方向石墨烯光伏薄膜材料半导体薄膜电子器件PEDOT钨纳米线GaN颗粒Ag 纳米线推荐阅读欧洲计量创新与研究计划（EMPIR）发布全球《石墨烯电学测量方法标准化指导手册》...
Science：孙向南团队与Hueso团队合作报道分子自旋光伏器件
在两电极磁化方向为反平行时，光生电压因为NiFe电极处的自旋过滤效应，导致部分空穴不能被补偿，此时产生的这个额外的光电压被定以为∆VOC（∆VOC = VOC,AP - VOC,P），∆VOC反映了分子材料/阳极界面处积累的自旋极化电荷载流子浓度。...