EIA-970-2013
低电感多层陶瓷片式电容器高频特性的测试程序

Test Procedure for High Frequency Characterization of Low Inductance Multilayer Ceramic Chip Capacitors

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标准号: EIA-970-2013
发布: 2013年
发布单位: ECIA - Electronic Components Industry Association

适用范围: This test method is used to measure the S parameters of low-inductance multilayer ceramic capacitors when mounted in shunt on a probeable low inductance test fixture.

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