采用纳米金属丝阵列靶可以约束更大电荷量的电子,从而有利于产生高亮度微焦点X射线源。 国外同行的研究发现,在相同激光参数下,采用小尺寸单金属丝靶可以减小X射线的焦斑尺寸,但是产生的X光子的数量比采用普通平面金属靶时要低一个数量级。而采用纳米丝金属阵列靶可以在提高激光-X射线转换效率的同时,获得远低于平面靶的X射线焦斑尺寸。...
随着制造业的迅速发展,对产品质量检验的要求越来越高,需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。 传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。 于是,许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。 工业CT(ICT)就是计算机层析照相或称计算机断层扫描成像。 ...
随着制造业的迅速发展,对产品质量检验的要求越来越高,需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。于是,许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。 工业CT(ICT)就是计算机层析照相或称计算机断层扫描成像。...
原理 在X-Ray检测的过程中, X-Ray穿过待检样品,然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X光路的几何放大率可达到10~2500倍,探测器像素可小到几十微米。 ...
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